主动激励式红外无损检测系统

□ 主动激励式红外无损检测系统

主动激励式红外成像（Active Thermography）是应用于非破坏性材料缺陷检测的一种技术。

针对试件的材质、结构和缺陷类型及特定的检测条件，采用不同形式的外部激励源（脉冲闪光灯、超声波、电磁、压缩空气以及微波等）并用计算机控制进行周期、脉冲等函数形式的激励，同时采用红外热像仪对时序图像数据进行采集，采用专业软件进行实时图像信号处理和分析并最终显示检测结果。

外部激励以透射或反射的方式施加于试件，使其温度场产生空间和时间上的变化，高性能的红外热像仪采集记录温度场的分布状况，通过不同的评估算法提高信噪比，最终将试件内部的缺陷暴露出来。

□ 配置全面高效灵活的检测手段

红外热像仪是构成主动激励式红外无损检测系统的核心部件之一。InfraTec热像仪所采用的探测器分辨率可达 (1,280 x 1,024) 红外像素。专用的控制单元可以生成信号控制激励源，这种信号也可用于温度脉冲和同步测量。同步测量中经常需要测量非常微弱的信号。同步测量的信号相较于参考信号综合了更长周期的次数，引入了它们各自的相位。使得红外图像的信噪比得到极大改善，热灵敏度达到几个mk的要求。这种额外的量值比热像仪标称的NETD要优越很多。InfraTec的主动激励式红外无损检测系统可以用于测量导热系数高的材料，例如不锈钢、铜、银等金属以及箔片或涂覆层。

□ 模块化系统设计精确匹配检测任务

实现主动激励式红外无损检测应用的多样性，有赖于对每一个单项检测系统的精心配置。InfraTec提供包括红外热像仪、专用软件、控制单元、外部激励源等各种必要的组件。可替换的红外热像仪、高效能控制和评估软件、可连续工作的外部激励源以及模块化的控制单元，能灵活的搭配，以适应未来各种需求。

□ 视缺陷而定的配置组合

InfraTec全面、系统的提供包括：   

■ 制冷型热像仪－ImageIR系列

■ 非制冷微量热型热像仪－VarioCAM HD系列

■ 配套提供可分别用于大型及微观结构测试的多种光学和机械组件

InfraTec根据不同的测试需求来选择适合的配置方案，将不同材料的缺陷以最佳方式检测出来。